XAS是一种常见的用于表征物质电子结构的方法，其常见的一种测量方法是，利用X射线照射样品，产生光电子，样品荷电，产生电流转导至地。产生光电子越多，样品荷电越多，产生电流越大。而在实际测量的XAS中，常见低能端峰位更高的现象，这便是本底信号所致。本底产生于深度激发的电子在样品中的能量损耗。为了扣除本底，出现了种种数学模型，如此处的Shirley。